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薄膜測厚儀
更新時間:
2024-04-09
型号:
浏覽量:
1595
薄膜測厚儀采用光(guāng)譜幹涉原理(lǐ)進行測量,具有非接觸、無破壞、快(kuài)速等特點,可(kě)在真空環境使用;可(kě)與大(dà)行程工(gōng)件(jiàn)台配合,實現大(dà)面積膜厚自(zì)動測量。
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