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  • 薄膜測厚儀
    薄膜測厚儀

    更新時間：2024-04-09

    型号：

    浏覽量：1595

    薄膜測厚儀采用光(guāng)譜幹涉原理(lǐ)進行測量，具有非接觸、無破壞、快(kuài)速等特點，可(kě)在真空環境使用；可(kě)與大(dà)行程工(gōng)件(jiàn)台配合，實現大(dà)面積膜厚自(zì)動測量。
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  • 微納結構三維形貌測量儀
    微納結構三維形貌測量儀

    更新時間：2021-03-16

    型号：

    浏覽量：1628

    微納結構三維形貌測量儀系列微納結構三維形貌檢測儀，基于白(bái)光(guāng)幹涉掃描原理(lǐ)，以光(guāng)波長作(zuò)爲測量基準，利用納米級高精度掃描系統結合具有自(zì)主知識産權的高精度解析算法，實現連續或台階突變微納結構表面三維形貌重構，由此獲得(de)待測物體(tǐ)三維形貌、表面紋理(lǐ)、微觀尺寸等各類外觀參數測量結果。
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